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| >>IEC 68-2-68砂塵試驗對于電子產(chǎn)品的影響及適用范圍 |
| IEC 68-2-68砂塵試驗對于電子產(chǎn)品的影響及適用范圍 |
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| 時間：2015/3/30 8:11:21 |
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IEC 68-2-68試驗方法L 砂塵試驗的目的在于決定懸浮于空氣中的砂塵對電子電工的影響。依試驗?zāi)康牟煌煞譃椴痪吣p力之細(xì)塵試驗、自由落塵試驗及吹塵與吹砂試驗等三種試驗程序。下面我們主要來了解一下這三種試驗的適用范圍。
一、不具磨損力之細(xì)塵試驗：適用于評估試件的密封性。本試驗法將試件暴露于不具磨損力之細(xì)塵中，并仿真因試件溫度循環(huán)變化造成內(nèi)、外氣壓差之效應(yīng)。
二、自由落塵試驗：適用于模擬有遮蔽之環(huán)境。本試驗法將試件暴露于低濃度之砂塵環(huán)境中，此環(huán)境的產(chǎn)生方式，是利用間歇性噴出定量的塵并借由重力作用使塵落于試件上。
三、吹塵與吹砂試驗：適用于模擬戶外及載具的使用條件。本試驗法是將試件暴露于含定量塵、砂或砂塵混合之紊流或?qū)恿骺諝庵校栽u估試件密封性及砂塵產(chǎn)生之侵蝕效應(yīng)。
注：本砂塵試驗不適用于驗證空氣過濾器的性能；細(xì)塵試驗并非模擬自然或誘發(fā)環(huán)境。
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